究中，测定到锡烯的边缘特性，就已经达到了预期目标。
现在则是制备出来高质量的多层锡烯薄层，就不止是‘边缘特性测定’，甚至都可以直接进行锡烯的特性测定。
研究成果就更近一步，牵扯到锡烯材料的理论特性验证。
这个成果是什么级别呢？
比如，同类型的材料石墨烯，国际上早就有单层碳石墨烯材料的概念。
在石墨烯制备出来之前，石墨烯材料只存在于理论中，只能靠计算推断它的导电性，热传导等特性，并认为这种材料会成为让半导体取得革命性发展。
石墨烯，是单原子层的二维蜂窝状晶体物质，制备难度当然是相当高的。
二十年前，安德烈-海姆和他的学生康斯坦丁-诺沃肖洛夫，用一卷普通胶带首次成功地从石墨中分离出单层碳原子的石墨烯，并对其进行了一系列性质测定。
他们的研究被认为是材料科学的重要里程碑，开启了二维材料研究的新纪元。
以此，他们一起获得了诺贝尔物理学奖。
锡烯和石墨烯类似，都是二维单原子层结构。
锡烯是锡原子层，金属元素组成所具有的理论特性，比石墨烯更适合作为半导体材料。
当然，研究难度也更高。
到现在为止，国际上最尖端的研究团队所制造出的锡烯，也只能用超高精度的检测设备，勉强测定到一些数据。
很多顶刊发布的锡烯实验研究成果，包括一些锡烯的特性验证，都是经过大量数据测定近而‘计算’出来的。
现在他们制造的高质量多层锡烯薄膜，可以直接测定到内部的绝缘特性，边缘则测定到导电性。
同样一种单原子材料，中间是绝缘体、边缘具有导电性。
这就是所谓的‘拓扑边缘态’。
拓扑边缘态的直接性检测，已经足够震撼国际了！
(本章完)